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4035 272 35971赛默飞FEI扫描电镜拔出极现货***

ThermoScientificScios2DualBeam是一套***分辨率的分析?聚焦离子束扫描电子显微镜(FIB-SEM)系统,可为包括磁性和非导电材料在内的各种样品提供***样品制备与3D表征性能?。

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是否进口:否产地:美国加工定制:否
品牌:美国赛默飞型号:4035 272 35971

4035 272 35971赛默飞FEI扫描电镜拔出极现货***详细介绍

4035 272 35971赛默飞FEI扫描电镜拔出极现货*** 

赛默飞FEL 部分配件耗材

16830 离子源

4035 273 12631   拔出极

4035 273 6 7441 光阑

4035 272 35991 抑制极

4035 272 35971  拔出极

1058129   拔出极

1301684  Suppressor 抑制极

1096659 Aperture 光阑

1346158  PT

 

Thermo Scientific Scios 2 DualBeam 是一套***分辨率的分析 聚焦离子束扫描电子显微镜 (FIB-SEM) 系统,可为包括磁性和非导电材料在内的各种样品提供***样品制备与 3D 表征性能 。Scios 2 DualBeam 通过创新的功能设计提高了通量、精度以及易用性,是满足科学家和工程师在学术、***以及工业研究领域***研究和分析需求的理想解决方案。

高质量亚表面和 3D 信息

通常需要进行亚表面或三维表征以更好地理解样品的结构和性质。Scios 2 DualBeam 及可选配的 Thermo Scientific Auto Slice & View 4 (AS&V4) 软件可提供高质量、全自动的多模式 3D 数据集采集,包括用于材料对比度的背散射电子 (BSE) 成像、用于组成信息的能量色散光谱 (EDS) 以及用于微观结构和晶体学信息的电子背散射衍射 (EBSD)。与 Thermo Scientific Avizo 软件组合使用后,Scios 2 DualBeam 可为纳米级的高分辨率、*** 3D 表征以及分析提供独特的工作流程解决方案。

以***分辨率提供完整的样品信息

创新的 NICol 电子色谱柱为系统的高分辨率成像和检测能力提供了基础。它适用于多种工作条件,无论是在 30 keV 的 STEM 模式下(访问结构信息)还是以较低能量(获得无电荷的详细表面信息)运行,都可以提供***纳米级细节。Scios 2 DualBeam 具有独特的镜筒内 Thermo Scientific Trinity 检测系统,专用于同时采集角和能量选择二级电子 (SE) 以及 BSE 成像数据。不仅可以快速访问从上到下的详细纳米级信息,还可快速访问倾斜的样品或交叉切片的信息。可选配的透镜下检测器和电子束减速模式可以快速、便捷地同时采集所有信号,揭示材料表面或交叉切片中最小的特征。借助独特的、具有全自动对齐功能的 NICol 色谱柱,可获得快速、准确、可重现的结果。

快速、便捷地制备高质量 TEM 样品

科学家和工程师不断面临新的挑战、需要对越来越复杂的样品的更小特征进行高度局部表征。Scios 2 DualBeam 的***创新与可选、易用和全面的 Thermo Scientific AutoTEM 4 软件以及赛默飞世尔科技的应用专业知识相结合后,可支持客户快速方便地制备用于多种材料的 自定义高分辨率 S/TEM 样品。为了获得高质量结果,需要使用低能量离子进行最终抛光,以尽可能减少对样品表面的损坏。Thermo Scientific Sidewinder HT 聚焦离子束 (FIB) 镜筒不仅能够在高电压下具有高分辨率成像和铣削能力,还具有良好的低电压性能,能够创建高质量的 TEM 薄片。

主要特点

快速、便捷的制备

使用 Sidewinder HT 离子柱获得高质量、现场特定的 TEM 和原子探针样品。

***分辨率成像

使用在***的样品范围(包括磁性和非导电材料)内具有***性能的 Thermo Scientific NICol 电子色谱柱。

最完整的样品信息

通过各种集成式色谱柱内和透镜下检测器获得清晰、***和无电荷的对比度。

高质量、多模式亚表面和 3D 信息

使用可选配的 AS&V4 软件,通过***靶向感兴趣区域来获得高质量、多模式亚表面和 3D 信息。

***的样品导航

高度灵活的 110 mm 载物台和腔室内 Thermo Scientific Nav-Cam 摄像机允许根据具体应用需求进行定制。

无伪影成像和构成图案

具有专用模式,如 DCFI、漂移抑制和 Thermo Scientific SmartScan 模式。

优化您的解决方案

灵活的 DualBeam 配置,包括可选配的 500 Pa 腔室压力低真空模式,可满足具体的应用要求。

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规格

电子束分辨率

·  WD

o 在 30 keV STEM 下为 0.7 nm

o 在 1 keV 下为 1.4 nm

o 在 1 keV(射束减速)下为 1.2 nm

电子束参数空间

· 电子束电流范围:1 pA 至 400 nA

· 着陆能量范围:20* eV – 30 keV

· 加速电压范围:200 V – 30 kV

· 水平射野宽度:7 mm WD 时为 3.0 mm,60 mm WD 时为 7.0 mm

· 可通过标准导航剪辑提供超宽视野 (1×)

离子光学系统

· 加速电压:500 V – 30 kV

· 电子束电流范围:1.5 pA – 65 nA

· 15 位置光阑条

· 漂移抑制模式,为非导电样品的标准模式

· 最小离子源寿命:1,000 小时

· 离子束分辨率:选择角方法下 30kV 时为 3.0 nm

检测器

· Trinity 检测系统(镜筒内和色谱柱内)

o T1 分段式下镜筒内检测器

o T2 上镜筒内检测器

o T3 可伸缩色谱柱内检测器(可选配)

o 多达 4 个同时检测的信号

· Everhart-Thornley SE 检测器 (ETD)

· 用于二级离子 (SI) 和二级电子 (SE) 的高性能离子转换和电子检测器 (ICE)(可选配)

· 可伸缩、低电压、高对比度、分段式、固态反向散射电子检测器 (DBS)(可选配)

· 带 BF/DF/HAADF 分段的可伸缩 STEM 3+ 检测器(可选配)

· 查看样品和腔室的 IR 摄像机

· 腔室内 Nav-Cam 样品导航摄像机(可选配)

· 集成的光束电流测量

载物台和样品

灵活的 5 轴电动平台:

· XY 范围:110 mm

· Z 范围:65 mm

· 旋转:360°(***)

· 倾斜范围:-15° 至 +90°

· XY 重复性:3 μm

· 样品高度:与共心点间距 85 mm

· 0° 倾斜时的样品重量:5 kg (包括样品架)

· 样品尺寸:完全旋转时 110 mm(也可以是更大的样品,但旋转有限)

· 计算中心旋转和倾斜

 



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